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lvshenchen

新虫 (初入文坛)

[求助] XRD测试方向不同,测试结果差异很大是什么原因? 已有1人参与

各位大神,本小白在实验测试过程中碰到这样一个现象,如图所示XRD测试方向(面外)与TIPS并五苯(TIPS-PEN)半导体薄膜生长方向一致时(水平夹角为0),峰值明显小于测试方向与TIPS并五苯(TIPS-PEN)半导体薄膜生长方向垂直时(水平夹角为90)的峰值。求大神帮忙解析。


附带三个更小白的问题:1.XRD测试时的光斑尺寸大约有多少?
                                      2.若待测半导体材料上有金会对测试结果有很大的影响吗?
                                      3.002峰与001峰的比值大小有什么意义么?


综上4个问题希望得到大神们的解答

XRD测试方向不同,测试结果差异很大是什么原因?
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AllToo

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
lvshenchen: 金币+5, ★★★很有帮助 2016-07-22 20:11:46
如果仪器没问题,说明你的材料择优取向很严重:

1.XRD测试时的光斑尺寸大约有多少?
具体看你X光源和狭缝;

2.若待测半导体材料上有金会对测试结果有很大的影响吗?
一般不会,除非劲相有峰和薄膜峰重叠;

3.002峰与001峰的比值大小有什么意义么?
两平面上电子云密度比,不过会受很多其它因素影响。
Modeling_X-Ray_data_in_all_type![alltooxray@126.com]
2楼2016-07-21 01:29:42
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lvshenchen

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by AllToo at 2016-07-21 01:29:42
如果仪器没问题,说明你的材料择优取向很严重:

1.XRD测试时的光斑尺寸大约有多少?
具体看你X光源和狭缝;

2.若待测半导体材料上有金会对测试结果有很大的影响吗?
一般不会,除非劲相有峰和薄膜峰重叠;
...

再烦扰你一下,就是这个电子云密度比高和低是用来衡量原子间成键概率的吧,能通过这个比值衡量晶体的品质或者这种材料的导电性么
3楼2016-07-22 20:14:00
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