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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 怎么检测微米级的铁粉表面包覆层的厚度？
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阿拉斯加走

新虫 (小有名气)

[求助] 怎么检测微米级的铁粉表面包覆层的厚度？ 已有2人参与

粒径在1-5微米的铁粉表面包覆了一层二氧化硅，我问了用TEM不能做，问了TEM只能检测粒径在200纳米一下的颗粒，而我的这个铁粉粒径在微米级别了，请问用什么方法，或是通过怎么制样可以检测包覆的二氧化硅层的厚度？
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1楼 2016-07-06 10:56:05
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Adolf_zhe

铁杆木虫 (小有名气)
镶一个样，把粉末磨个断面就行了。

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2楼2016-07-07 09:50:05
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Xnano

捐助贵宾 (初入文坛)

【答案】应助回帖

TEM直接拍是有点厚，不过打个mapping应该可以
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3楼2016-07-17 16:59:29
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小七＃＃

新虫 (初入文坛)
请问您是用什么方法制备的二氧化硅包覆微米级颗粒的？

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4楼2019-04-09 21:56:04
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Andydu77

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

环氧树脂塑封，然后机械切割断面，用SEM测量。
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5楼2019-04-10 08:42:03
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千山风雪

新虫 (初入文坛)
楼主最后是怎么测得，方便分享一下吗？
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6楼2023-03-31 10:54:12
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