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阿拉斯加走

新虫 (小有名气)

[求助] 怎么检测微米级的铁粉表面包覆层的厚度? 已有2人参与

粒径在1-5微米的铁粉表面包覆了一层二氧化硅,我问了用TEM不能做,问了TEM只能检测粒径在200纳米一下的颗粒,而我的这个铁粉粒径在微米级别了,请问用什么方法,或是通过怎么制样可以检测包覆的二氧化硅层的厚度?
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Adolf_zhe

铁杆木虫 (小有名气)

镶一个样,把粉末磨个断面就行了。

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2楼2016-07-07 09:50:05
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Xnano

捐助贵宾 (初入文坛)


【答案】应助回帖

TEM直接拍是有点厚,不过打个mapping应该可以
3楼2016-07-17 16:59:29
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小七##

新虫 (初入文坛)

请问您是用什么方法制备的二氧化硅包覆微米级颗粒的?

发自小木虫Android客户端
4楼2019-04-09 21:56:04
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Andydu77

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

环氧树脂塑封,然后机械切割断面,用SEM测量。
5楼2019-04-10 08:42:03
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千山风雪

新虫 (初入文坛)

楼主最后是怎么测得,方便分享一下吗?
6楼2023-03-31 10:54:12
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