| 查看: 1554 | 回复: 1 | ||
[求助]
关于用PL测试半导体材料禁带宽度的问题
|
|
请问下大家一个问题： 半导体的禁带宽度可以通过PL测量 如果被测的半导体薄膜里面还有另一个杂相 通过PL测试的峰对应的禁带宽度是综合考虑半导体材料和杂相两种物质的；还是会在pl谱图中分别出现半导体材料本身的峰和杂相的峰呢？ |
回复此楼» 猜你喜欢
论文投稿期刊
已经有4人回复
-
MDPI [Buildings, Geosciences, Heritage, Minerals, Sustainability] 专题征稿
已经有6人回复
-
有机高分子材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有274人回复
-
MDPI [Applied Sciences, Land, Remote Sensing, Sensors] 专题征稿
已经有1人回复
-
祈福祈福祈福
已经有66人回复
-
26/27申博
已经有2人回复
-
MDPI 多期刊联合专题征稿
已经有1人回复
-
MDPI 多期刊联合专题征稿—AI 材料
已经有0人回复
-
TiNb合金抛光-电解抛光
已经有1人回复
-
7075材料过滤难
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
18856135015
铜虫 (著名写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 7372.6
- 散金: 448
- 红花: 2
- 帖子: 1421
- 在线: 56.7小时
- 虫号: 6148657
- 注册: 2017-03-26
- 性别: GG
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
2楼2017-11-07 16:25:34
