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清清欢欢

新虫 (初入文坛)

[求助] 半导体薄膜中多种载流子的测试问题 已有2人参与

对于多载流子体系的半导体薄膜,利用什么方法可以得到其中不同类型的载流子浓度及迁移率呢?有大神做过相关课题吗?谢谢了!
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小山田心子

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
这个是可以测试的,利用霍尔仪器可以测试
2楼2016-05-26 14:22:59
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小山田心子

木虫 (正式写手)

引用回帖:
8楼: Originally posted by 清清欢欢 at 2016-05-30 13:21:04
霍尔测的是一个综合的结果,咱们一般默认n型的主要是电子,p型的是空穴,但如果电子和空穴浓度数量级相差不大,想要分别测出来其浓度及迁移率,该怎么测呢?...

我记得半导体物理里面有关于载流子的计算,时间太长我忘记了,楼主可以看看,我记得是一定温度下,电子和空穴的乘积是一个常数,如果能测出来一个,应该是能算出来另一个的
10楼2016-05-30 14:06:42
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