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如何用XRF测准分子筛Cu含量 已有2人参与
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| 大家好，做分子筛有段时间了，分子筛的Cu含量的测定一直是个问题。用过OES和XRF都测过，也在论坛里问过大家类似的问题。最近做的工作需要比较准的测定Cu含量和Si/Al比例。XRF测的时候，主要是助管来做，每次做的结果也不太相同。我想规范一下这个测定的过程，听到有的同学说标准曲线法测，我想具体问问有没有同学做过？具体的方法是什么？有没有相应的参考文献？在制样过程和测试中需要注意什么？一次多测几个点还是怎么样呢？金币不多，恳请大家帮助！谢谢 |
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yuyanke
木虫 (正式写手)
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【答案】应助回帖
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wonderfulong: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢应助，欢迎常来交流。 2016-03-16 22:03:37
wonderfulong: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢应助，欢迎常来交流。 2016-03-16 22:03:37
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XRF给的结果一般都是半定量的。做标准曲线比较难，做土壤的需要土壤的标准样，做矿石需要矿石的标准样，分子筛不知道有没有标准样品。想精确的话，还是溶解了用ICP-MS或者ICP-OES测吧 发自小木虫Android客户端 |
3楼2016-03-16 20:13:08
zyhou
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2楼2016-03-16 19:20:22
ly2199
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【答案】应助回帖
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首先，一般购买的商品原粉是通过XRF来给出Si，Al比的，但是这个数值因为使用的XRF型号以及操作者的操作等原因，也会造成检测值的不同。第二，XRF在高校以及科研院所一般使用的是无标定量，这个定量方法需要归一化给出最终的结果。结果和样品的颗粒度以及制样方法都有关系，所以得控制测试之前的操作尽可能的相同。第三，如果你想得到非常准的Cu等含量，还是需要选择ICP方法，ICP是自己建立标准曲线，然后定量。结果更准确 发自小木虫Android客户端 |
4楼2017-10-28 07:06:20
10