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yebitai

铜虫 (正式写手)

[求助] [小妹求助用什么表征技术可以测出半导体表面物种的能级位置?] 已有2人参与

做了表面修饰的二氧化钛,想用表征测出表面物种能级位置,做了xps,只知道靠近价带的位置有能级,但不能确定是表面物种的。
有什么表征可以测粉末样品表面物种的能级位置呢?
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elf2011

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

引用回帖:
6楼: Originally posted by yebitai at 2016-03-07 17:25:51
我都做了,但XPS价带谱有个很宽的拖尾,而且不知道是价带到物种能级的跃迁还是物种能级到导带的跃迁...

你做的是表面修饰的TiO2,如果是薄膜,而且单晶性质很好,你要确定表面能级还可以试一试,但是你做的粉末或者玩纳米结构等等,及时你得到结果了,也是不精确的。个人建议不要纠结这个结果,可以宏观一点想,你的表征与纯TiO2有区别了就可以了,至于直接证据。。。。。估计很难。理论计算吧,也许
7楼2016-03-11 16:06:14
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yebitai

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by cord at 2016-02-25 12:42:54
UPS测试应该可以

请问UPS测的结果,如果在禁带中有个能级,能确定是表面物种还是其它缺陷比如说氧空位能级吗?
3楼2016-02-26 10:49:41
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yebitai

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by cord at 2016-02-25 12:42:54
UPS测试应该可以

还有,还有其它的表征可以测出来吗?EELS可以吗?thanks
4楼2016-02-26 21:42:10
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elf2011

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖


yebitai: 金币+1, 有帮助 2016-03-07 17:24:03
XPS,UV-VIS都可以粗略的算一下
5楼2016-03-06 19:57:35
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