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museld

金虫 (著名写手)

[交流] PWSCF计算的态密度和vasp软件计算得到的态密度不一致

求助:
发现PWSCF计算的态密度和vasp软件计算得到的态密度定性上都有差别, pwscf计算得到的是金属性的,但是vasp计算得到的确实半导体特性的,真是晕倒了。

另外:关于PWSCF计算态密度和能带的步骤大家觉得这样对吗?
态密度: relax-scf-nscf-dos
能带计算:  relax-scf-nscf-bands

pwscf的参数设置是:
&control
calculation='scf',
prefix='abc'
pseudo_dir = '/home//QE/pseudo',
outdir='./',
/
&system
ibrav = 0,  nat= 4, ntyp= 3,
ecutwfc = 40
ecutrho=400
occupations='tetrahedra'
/
&electrons
electron_maxstep= 200
diagonalization='david'
mixing_beta = 0.7
conv_thr =  1.0d-8
/
。。。。。。。。

vasp的INCAR设置:
# Startparameter for this run:
   SYSTEM = test
   ENCUT  =  400 eV
   NELM   =     160   
   NELMIN =     8   
   EDIFF  = 1.0E-05   
#   EDIFFG =    -0.05   
#   NSW    =     200     
#   IBRION =      2     
#   ISIF   =      2     
   ISMEAR =   0   
   SIGMA  =   0.2
   LORBIT =      10   
  NEDOS=1000

PWSCF计算的态密度和vasp软件计算得到的态密度不一致
图片1.png
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peoplemotu

新虫 (初入文坛)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
楼主的问题解决了吗?新手一枚,最近新学pwscf计算能带和态密度,遇见了同样的问题,我vasp算的是金属,pwscf算的是半导体,用pwscf算的dos和band严重对不上。请教一下怎么解决的!
10楼2018-11-16 10:03:46
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