| 查看: 2114 | 回复: 6 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
[交流]
【求助】AFM形貌图中的一个小问题
|
|||
|
求助：AFM形貌图中的一个小问题 请教各位高手AFM形貌图中的一个小问题： 样品测试得到的AFM图中 roughness analysis 一项中的 Img. Mean; Img. Raw mean; Img. Rms (Rq); Img. Ra 几项分别是什么意思？Rq 和 Ra代表什么？谢谢：） [ Last edited by wdwsnnu on 2008-9-22 at 13:54 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
请问对标matlab的开源软件octave的网站https://octave.org为什么打不开？
已经有1人回复
-
求助两种BiOBr晶体的CIF文件（卡片号为JCPDS 09-0393与JCPDS 01-1004 ）
已经有0人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有50人回复
-
哈尔滨工程大学材化学院国家级青年人才-26年硕士招生
已经有0人回复
-
求助Fe-TCPP、Zn-TCPP的CIF文件，或者CCDC号
已经有0人回复
-
河北大学-26年秋季入学申请考核制-化学博士1名
已经有0人回复
-
XPS/?λXPS
已经有0人回复
2楼2008-09-22 17:13:24
★ ★
wdwsnnu(金币+2,VIP+0)::-)，谢谢应助
wdwsnnu(金币+2,VIP+0)::-)，谢谢应助
|
表面质量如图所示参数描述：算术平均偏差（Mean deviation, Rm）、均方根偏差（RMS deviation, Rq）、峰谷总高度（Whole height, Rt）及平均高度（Average height, Ra）。具体建议看下相关文献，我这给个定义： The surface roughness is measured by atomic force microscope (AFM) and is characterized by root-mean-square (rms) roughness, which is given by[1,2] where N is the total number of the surface sites, hi the height of the ith site,and h is the average height of the surface. 1 X. Tan, G. Ouyang, G. W. Yang, Phys. Rev. B 73 (2006) 195322. 2 L. Yu, J. Xu, S. Dong, I. Kojima, Thin Solid Films 516 (2008) 1781-1787. 均方根偏差 rms roughness是最能体现表面形貌的。 [ Last edited by memser on 2008-9-22 at 18:02 ] |
3楼2008-09-22 17:49:07
元小雪
木虫 (职业作家)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 贵宾: 0.947
- 金币: 2216.5
- 散金: 2484
- 红花: 2
- 帖子: 3767
- 在线: 124.5小时
- 虫号: 471521
- 注册: 2007-12-01
- 性别: MM
- 专业: 物理/
4楼2008-09-22 19:03:26
5楼2008-09-23 08:26:37
liaomin603
木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 3940.8
- 红花: 2
- 帖子: 358
- 在线: 179.2小时
- 虫号: 315960
- 注册: 2007-03-03
- 性别: GG
- 专业: 半导体电子器件
6楼2008-09-26 09:32:22