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光电探测器，同种样品但厚度不同制成的光电探测器，测出来的ON/OFF一样吗
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本人刚学习光电探测器不久，有些不明白的地方，请教下各位大神。 本人研究的光电探测器是双电极光电器件，模型如附件 问题： 1.同种半导体样品但厚度不同制成的光电探测器，测出来的ON/OFF一样吗 2.同样的半导体纳米线，改变不同的配体，或是进行不同的掺杂，制成一系列光电器件，那么这样不同配体或不同掺杂的光电性能怎么比较好坏  探测器_看图王.jpg |
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gucas229
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
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你说的厚度是颗粒薄膜还是纳米线，10根纳米线和100根纳米线测出来结果肯定不一样。光电探测性能有几个参数指标，光响应率，外量子效率，响应时间和恢复时间等 发自小木虫Android客户端 |
2楼2015-12-11 23:07:41
3楼2015-12-26 21:22:41