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liulimin1117

新虫 (初入文坛)

[交流] 光电探测器,同种样品但厚度不同制成的光电探测器,测出来的ON/OFF一样吗

本人刚学习光电探测器不久,有些不明白的地方,请教下各位大神。
本人研究的光电探测器是双电极光电器件,模型如附件
问题:
1.同种半导体样品但厚度不同制成的光电探测器,测出来的ON/OFF一样吗
2.同样的半导体纳米线,改变不同的配体,或是进行不同的掺杂,制成一系列光电器件,那么这样不同配体或不同掺杂的光电性能怎么比较好坏

光电探测器,同种样品但厚度不同制成的光电探测器,测出来的ON/OFF一样吗
探测器_看图王.jpg
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gucas229

银虫 (小有名气)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
你说的厚度是颗粒薄膜还是纳米线,10根纳米线和100根纳米线测出来结果肯定不一样。光电探测性能有几个参数指标,光响应率,外量子效率,响应时间和恢复时间等

发自小木虫Android客户端
2楼2015-12-11 23:07:41
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liulimin1117

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by gucas229 at 2015-12-11 23:07:41
你说的厚度是颗粒薄膜还是纳米线,10根纳米线和100根纳米线测出来结果肯定不一样。光电探测性能有几个参数指标,光响应率,外量子效率,响应时间和恢复时间等

是纳米线的厚度。如果器件厚度不一样,那么不同配体的光电探测器有什么方法进行比较,谢谢
3楼2015-12-26 21:22:41
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