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薄膜磁滞回线的抗磁背底怎么扣除 已有3人参与
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在抗磁背底上生长的顺磁性薄膜，用PPMS在6000 Oe下扫磁滞回线，发现是24象限的，又用大小差不多的一块衬底在同样磁场下测磁滞回线，测出来的不是一条直线，而是也有窗口，请问这个该怎么把衬底信号扣除？我把衬底两端饱和处信号分别拟合出两条直线分别求出斜率然后取得平均斜率，然后用样品M -斜率 k*H,但是算出来的是负值，扣除完图像还是在二四象限，是这种计算方法不对吗？？ 薄膜样品.png  衬底.png  扣除后.png |
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