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風の記憶

新虫 (初入文坛)

[求助] 关于测试XRD 能量设置问题 已有2人参与

请问XRD测试可以要求测试人员改变射线能量大小来调节射线打入样品深度。
如果可以的话,最小测试深度是多少。因为试样膜很薄 不想打入太多基体信息进去。
谢谢!
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匿名

用户注销 (知名作家)

精修问题可私信



感谢参与,应助指数 +1
風の記憶: 金币+1, 有帮助 2015-11-02 09:55:24
本帖仅楼主可见
2楼2015-10-31 13:41:55
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
風の記憶: 金币+4, ★★★★★最佳答案 2015-11-02 09:55:16
一般都是调角度的,小角度,慢扫速对薄膜样品有好处,但是信噪比还是比大量的粉末样品差很多的,调能量这不靠谱的,x射线怎么入射深度都是微米级的,很深的东西
3楼2015-11-01 18:09:07
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風の記憶

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by gxytju2008 at 2015-11-01 18:09:07
一般都是调角度的,小角度,慢扫速对薄膜样品有好处,但是信噪比还是比大量的粉末样品差很多的,调能量这不靠谱的,x射线怎么入射深度都是微米级的,很深的东西

谢谢
4楼2015-11-02 09:50:52
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