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isord木虫 (小有名气)
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[交流]
用XRD掠入射测试Si基板LaB6薄膜，Si峰强度是不是无法低于需要的LaB6峰
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最近有个样品，Si基片上沉积LaB6膜，入射角从0.5调到0.2，Si的峰28左右有明显下降，但是依然是很明显的，感觉再降低一下入射角，Si的峰会再降低下去？有没有确定这个入射角的方法，不用一直尝试？有没有熟悉的虫虫？ 005.jpg |
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isord
木虫 (小有名气)
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