| 查看: 464 | 回复: 0 | |||
isord木虫 (小有名气)
|
[交流]
用XRD掠入射测试Si基板LaB6薄膜，Si峰强度是不是无法低于需要的LaB6峰
|
最近有个样品，Si基片上沉积LaB6膜，入射角从0.5调到0.2，Si的峰28左右有明显下降，但是依然是很明显的，感觉再降低一下入射角，Si的峰会再降低下去？有没有确定这个入射角的方法，不用一直尝试？有没有熟悉的虫虫？ Graph4.jpg |
回复此楼» 猜你喜欢
郑州大学申博
已经有6人回复
-
40+中年人失业后，还能找到好工作吗？
已经有18人回复
-
人工智能虚构史料、伪造文献频现，多家期刊声明抵制
已经有5人回复
-
CsPbI2Br全无机钙钛矿SEM图像异常分析
已经有8人回复
-
申请科研项目纯靠实力能成功吗？
已经有12人回复
