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大家的诚

银虫 (小有名气)

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[求助] 纳米级非晶颗粒做电子衍射，如何制样? 已有3人参与

如题，我有400nm左右的氧化硅颗粒，由于制备方法是在传统的Stober法上做了些改进，所以想通过电子衍射的方法分析下结构。但是现在制样遇到了困难：一般纳米颗粒看TEM都是将颗粒分散于水中，再滴在铜网支撑的碳膜上进行观测。这样的制样方法对于形貌观测是没有影响的。问题是我现在要进行电子衍射实验，同为无定形的背底碳膜是否会对衍射花样，强度等造成影响?如果有影响，这种情况下又该如何制样?特此一问，请高手不吝赐教！谢谢！

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1楼 2015-10-24 17:56:11

已阅回复此楼关注TA 给TA发消息送TA红花 TA的回帖

temedx

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【答案】应助回帖

引用回帖:

5楼: Originally posted by 大家的诚 at 2015-10-24 21:18:56
谢谢回应。我也有这种考虑。我的计划是选颗粒边缘的部位做衍射，不过好像不太现实。另外我在制备100nm左右的颗粒，希望能够达到强度要求。
例外关于微栅挂样技术，能否作更加详细的说明或给出资料链接？谢谢。...

只是使用微栅，挂样方式和普通碳膜一样的。