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hjf_2011

铜虫 (正式写手)

[交流] 测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常

各位师兄师姐,

小虫近日测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常。
主要疑惑在高温段,已用红色填充标识了。我所查阅的文献中高温段的几条曲线基本都是重合的,请问我这个测试结果正常吗?
另外,考虑到杂质对磁性结果的影响,我虽然是单颗晶体挑出来后研成粉晶测试的,心里对测试结果还是有些怀疑,请问大家是怎样排除杂测试结果的影响呢?
金币几乎不多,非常感激大家!

测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常
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测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常-1
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测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常-2
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m06z511

木虫 (职业作家)

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
hjf_2011: 金币+7, 金币不多,感激! 2015-10-15 08:56:18
从图中看,样品测试的结果是正确的。但是不明白为何要加那么大的外场。一般的测试所加的外场只有100-200 Oe。如果你的样品需要很大的外场,这个测试就没有别的问题了。杂质的影响是难以排除的,你用该样品测试XRD,就可以发现杂质的种类 并估计含量,在FC-ZFC图中是没法评估的。
4楼2015-10-13 20:22:36
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hjf_2011

铜虫 (正式写手)

请问有能提供帮助的朋友吗?
3楼2015-10-12 15:01:16
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hjf_2011

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by m06z511 at 2015-10-13 20:22:36
从图中看,样品测试的结果是正确的。但是不明白为何要加那么大的外场。一般的测试所加的外场只有100-200 Oe。如果你的样品需要很大的外场,这个测试就没有别的问题了。杂质的影响是难以排除的,你用该样品测试XRD, ...

您好,谢谢您!我的样品目测没有杂质,因为是在显微镜下一颗一颗挑出来的单晶。但是是否依然可能存在杂质的影响呢?如是这样,我怎样排除杂质的影响呢?请问是否有这样一个判断方法:即重新收集一批样品,测试同样的项目,并且两次测试数值应该基本一致。非常感激您!
5楼2015-10-14 14:49:39
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hjf_2011

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
5楼: Originally posted by hjf_2011 at 2015-10-14 14:49:39
您好,谢谢您!我的样品目测没有杂质,因为是在显微镜下一颗一颗挑出来的单晶。但是是否依然可能存在杂质的影响呢?如是这样,我怎样排除杂质的影响呢?请问是否有这样一个判断方法:即重新收集一批样品,测试同样的 ...

您好,我的疑问主要体现在以下这周对比图中,为同一化合物在不同批次重复实验下收集且测试的时候使用的样品量不一致的情况下得到的磁化率曲线图,两个图室温值相差不大,但是低温14K凸起那个地方相差不小,请问是否可以归咎于是杂质引起的这样一个差异呢?又或者我的化合物本身在低温区14K下不会有凸起,都是杂质引起的?请问您怎么看待这个问题的?磁性测试前后均对样品进行了XRD表征,化合物结构稳定,纯度有保证。非常感激!!

测试仪器型号及其它说明:磁性测量系统型号:MPMS-XL-7。样品为单晶,通过研钵将其研成粉晶,样品量,将其包裹在一定质量的封口膜中,然后将其压下一个名叫胶囊的底部,放到样品腔内进行测量。数据处理中均没有进行抗磁校正。

测试了几个磁性数据,包括不同磁场下的磁化率曲线,ZFC/FC曲线,但不知曲线是否属正常-3
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6楼2015-10-14 17:06:33
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