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[求助]
离焦方法测纳米颗粒三维位置求助（PSF/DH-PSF）
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第一次发帖，金币有限，还望大家不吝赐教，先谢过啦！ 研究方向是要对纳米颗粒（10nm级别）进行三维定位，二维的倒是好解决，主要是深度方向上纠结了好久。 看过一些资料，也和导师商量过，基本确定采用离焦的方法进行测量。大概有两种思路： 一、利用成像系统的PSF进行Z轴方向的定位，颗粒偏离焦面的距离与成像的光班特征一一对应，先是建立一个对比库，测量时将测量得到的图像与库对比，然后得到深度信息。这个方法我目前遇到的困难是，我想编程序仿真试试，看看效果，只是不知道该怎么建这个模型，具体的数学物理关系没有找到参考资料。 二、DH-PSF方法利用相位片，将粒子的深度转换成角度，现在问题在于这种相位片不知如何获取得到。 也不知道上面几段话是否讲清楚我的困扰，还望大牛们不吝赐教，谢谢！  |
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