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[交流]
【求助】关于纳米线的XRD...
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请问:生长在硅片上的纳米线,测XRD时,对于2 (*) 是否存在系统平移误差? 测试XRD的老师说如果硅片没有放平,即成与入射X射线成一角度的话, 2 (*)会有一个平移.但我觉得不会出现,因为纳米线的XRD就像粉末衍射一样,它们并没有特定取向,即在其他测试部分不变的前提下,XRD信号与应该粉体取向(即与硅片是否放平)无关,尤其2(*) 角都是不变的…到底该谁是对的?恳请版内牛人指点,感激不尽!谢谢!! (PS:因为本人的一个ZnO NWs样品2 (*) 衍射与卡片有较大的偏移,我认为是我掺杂导致的晶格常数改变引起的,但老师说可能存在上述系统平移误差,我的结论太武断了!我该如何?????) [search]纳米线的XRD[/search] [ Last edited by SHY31 on 2008-9-3 at 11:16 ] |
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2楼2008-09-03 09:56:42