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shikeren9127木虫 (正式写手)
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高分子的表征和仪器介绍
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| 在这里做一个统计，大家把知道的高分子的表征手段和仪器名称都写出来，最后有原理。我想这个对大家，尤其是新人都有很大的帮助。 |
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2楼2008-08-29 10:47:07
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呵呵,书有的人懒的看,我就总结一个: X射线光电子能谱（XPS）-仪器是电子能谱仪 X射线光电子能谱是利用波长在X射线范围的高能光子照射被测样品，测量由此引起的光电子能量分布的一种谱学方法。样品在X射线作用下，各种轨道电子都有可能从原子中激发成为光电子，由于各种原子、分子的轨道电子的结合能是一定的，因此可用来测定固体表面的电子结构和表面组分的化学成分。在后一种用途时，一般又称为化学分析光电子能谱法（ Electron Spectroscopy for Chemical Analysis，简称 ）。与紫外光源相比，X射线的线宽在 以上，因此不能分辨出分子、离子的振动能级。此外， 在实验时样品表面受辐照损伤小，能检测周期表中除 和 以外所有的元素，并具有很高的绝对灵敏度。因此 是目前表面分析中使用最广的谱仪之一。 用途:1:主要研究原子的内层电子结合能。由于内层电子不参与化学反应，保留了原子轨道特征，因此其电子结合能具有特定值.每条谱线的位置和相应元素原子内层电子的结合能有一一对应关系，不同元素原子产生了彼此完全分离的电子谱线，所以相邻元素的识别不会发生混淆。这样对样品进行一次宽能量范围的扫描，就可确定样品表面的元素组成。 2:由于化学环境不同而引起内壳层电子结合能位移的现象叫化学位移。研究表明，大多数非金属原子的化学状态和金属的氧化状态在很多情况下是可以区分的，这样，我们就可根据内壳层电子结合能位移大小判断有关元素的化学状态。 3:光电子峰的强度与产生该信号的元素含量及电子的平均自由程和样品原子各个能级的光致电离截面等有关。在相同激发源及谱仪接收条件下，充分考虑这些因素后，可以用每个谱峰所属面积的大小作表面元素的定量分析 先介绍到这里,温故而知新   [ Last edited by 585685 on 2008-8-29 at 11:36 ] |
4楼2008-08-29 11:33:52
585685
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再说个估计用的不多的(我是没有用过) 磁力显微镜（MFM）表征磁性聚合物表面的空间磁场尺寸的分布 磁力显微镜是原子力显微镜的一个变种，它和原子力显微镜（AFM）的不同之处仅在于在探针针尖上包裹了一层铁磁性材料，当这种探针针尖离被测试样表面（截面）很近时，针尖和样品间的作用力是范德华力，这样得到的针尖扫描图像是样品表面（截面）的立体形貌图。而当针尖离样品表面（截面）稍远，超出范德华力的作用范围而处在磁力作用范围之内时，这时针尖扫描得到的图像是样品表面（截面）空间磁场（磁畴）的分布图像。由此图像我们可以测出样品表面磁场的空间尺寸（磁畴的尺寸） 聚合物介电常数（ε）和介电损耗ε＂的表征 用Wiltron37217A型矢量网络分析仪，对聚合物按制样要求，制成一定尺寸的薄板样品，放于仪器中两个空腔谐振器的中央，使试样所处位置在微波磁场为零，而微波电场最大处。对谐振腔用微波进行激励，通过扰动后谐振器频率向低频侧移动的变化量及无载品质因素Q值的变化，借助计算机软件，计算出聚合物样品的复数介电常数值ε，其中ε＝ε＇＋jε＂为聚合物的实数介电常数， ε＂为聚合物的虚数介电常数值，即介电损耗值。 [ Last edited by 585685 on 2008-8-29 at 11:56 ] |
5楼2008-08-29 11:53:59
