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zpp0327

铁杆木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
用XRF做标准曲线没有啊?做好曲线,测得结果也很准的
11楼2015-09-11 14:23:37
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奋斗的鲁斐

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

建议使用ICP,师姐测钌的含量,也是负载在分子筛上,就是用ICP测得。
永不畏惧,永不退缩,永不放弃
12楼2015-09-12 16:14:27
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yhp6210

铁虫 (小有名气)

你好,对于Cu-SSZ-13有些问题想请教,我们是拿这个分子筛做对照,请问在合成这个分子筛中为什么会成为另外一种分子筛?如果方便,请加一下我的QQ:1334970833谢谢
13楼2015-11-20 15:56:12
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Vaneo

新虫 (小有名气)

引用回帖:
8楼: Originally posted by guozl at 2015-09-10 07:38:42
楼主说的有点不对吧,用XRF检测是表面上的Cu是指的宏观意义上的表面,您指的表面是微观上的表面,所以不是一个概念,偏差大有可能是您的样品本身在宏观上不均匀,将您的样品磨好后压片测量,利用标准样建立标准曲线 ...

您说的非常对,最近把三种表征的知识学习了一遍,也上机做了原子吸收、原子发射,XRF,马上就做ICP了,这几种检测方法,除了XRF,其他的表征方法,都需要做标准曲线的,原子吸收,有铜灯,测出来的值也比较准确,毕竟用这些方法测铜是没啥问题的,难就难在怎么样溶解样品,避免其他离子的干扰。但是,如果测Na的话,误差就比较大了,而且对样品溶解的水要求也很高。XRF确实刚听说做标准曲线,以前去分析测试中心,老师也没提过,最近浏览小木虫,看见有人提到,我们的样品,Cu分布肯定是不均匀的,所以测Cu含量,误差确实不小。XRF测硅铝比比较准确,我是做分子筛的!
14楼2016-01-21 21:40:30
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Vaneo

新虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by leeying at 2015-09-09 15:15:04
可以,不过不知道怎么预处理。

难就难在预处理,选好合适的溶液溶解样品,还要避免样品的其他杂样品离子对待测离子的干扰
15楼2016-01-21 21:41:41
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smallfolk

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

xrf是体相啊。xps才是表面。

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
16楼2016-01-21 21:52:05
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