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jshhugfit新虫 (正式写手)
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压电薄片测电阻抗，涂敷附加层后，谐振峰变化情况
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压电材料薄片用4294测电阻抗，谐振峰还算比较尖锐，然后将同一压电薄片两表面涂敷导电背材层，再去测电阻抗。谐振曲线会有什么变化？ 粗略实验发现，谐振峰变得不再尖锐，平缓了许多，谐振峰位的频率值貌似有偏移（不确定是附加层导致）。 是否是因为涂敷背材后，阻尼增大，使得谐振峰尖锐程度降低？即可以理解为品质因数降低？ 或者可能的原因是涂敷的背材平面不够平整光滑，导致谐振峰的峰形和峰位变化？因为发现背材不同厚度处测量，好像谐振曲线无明显变化。 这里面谐振峰的尖锐程度，及峰位频率值偏移，得物理解释应该怎样理解？ 或者，是否可以认为压电材料确定了，无论是否加附加层，其电阻抗测试的谐振峰的形状和位置均不应变化？即由材料本身特性决定。 请教了，谢谢啦。 |
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