[交流] 压电陶瓷测电阻抗，谐振峰变换情况 已有1人参与

压电材料薄片用4294测电阻抗，谐振峰比较尖锐，然后将同一压电薄片两表面涂敷导电背材层，再去测电阻抗。谐振曲线会有什么变化？ 通过实验发现，谐振峰变得不再尖锐，平缓了许多，谐振峰位的频率值貌似有偏移。 是否是因为涂敷背材后，阻尼增大，使得谐振峰尖锐程度降低？即可以理解为品质因数降低？ 或者可能的原因是涂敷的背材平面不够平整光滑，导致谐振峰变化？因为发现背材不同厚度处测量，好像谐振曲线无明显变化。 这里面谐振峰的尖锐程度，及峰位频率值偏移，得物理解释应该怎样理解？ 请教了，谢谢啦。

回复此楼

» 猜你喜欢

• 国自然面上和省基金B类撒花 已经有17人回复
• 有没有学校收留 已经有3人回复
• 312求调剂 已经有3人回复
• 华师大读博 已经有5人回复
• 又一批高校组建人工智能学院 师资行吗 不是骗人吗 已经有5人回复
• 急需审稿人！！！ 已经有3人回复
• 申博/考博 已经有8人回复
• 295分求调剂 已经有6人回复
• 085600材料与化工调剂 已经有6人回复
• 有没有接收比较快的sci期刊呀，最好在一个月之内的，研三孩子求毕业 已经有7人回复

» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)

高级回复