[交流] 压电陶瓷测电阻抗，谐振峰变换情况 已有1人参与

压电材料薄片用4294测电阻抗，谐振峰比较尖锐，然后将同一压电薄片两表面涂敷导电背材层，再去测电阻抗。谐振曲线会有什么变化？ 通过实验发现，谐振峰变得不再尖锐，平缓了许多，谐振峰位的频率值貌似有偏移。 是否是因为涂敷背材后，阻尼增大，使得谐振峰尖锐程度降低？即可以理解为品质因数降低？ 或者可能的原因是涂敷的背材平面不够平整光滑，导致谐振峰变化？因为发现背材不同厚度处测量，好像谐振曲线无明显变化。 这里面谐振峰的尖锐程度，及峰位频率值偏移，得物理解释应该怎样理解？ 请教了，谢谢啦。

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