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【求助】Pt元素的XPS结合能偏高2eV如何处理？
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采用SiC浸渍法负载Pt，氢气还原8小时。 用XPS peak进行分峰处理 发现Pt的结合能比文献都偏高了2eV 看C峰的话，似乎是在284.5附近 联系了测试老师，说是因为其中含有F元素（SiC表面用PTFE处理过），受F元素的影响导致Pt的结合能偏高 那么在进行数据处理的时候应该怎么办？ 因为出现偏差后，价态的定量分析就不好进行了  Pt4f  C峰 |
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