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原子力显微镜测量模式
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AFM的量測模式： ※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。 ※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 轻敲式量测 → 探针使用时间较长 接触式量測 → 探针使用时间较短 3.Olympus探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學  NA,細胞,薄膜,蛋白質…TR400PAS:Contact Mode,用於表面較平坦較軟的sample RC150VB,AC40TS：生物用探針 4.特有的90度直角側邊設計，更加方便於夾取探 有需要探针采购请联系我们，Olympus中国 021-61553630  探针选购小贴士.jpg |
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  好 |
2楼2017-09-14 22:00:59