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yyuhmj17

金虫 (小有名气)


[交流] 【2015-06-18】第16届半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议(DRIP XVI)

会议城市:
江苏省苏州市
是否Ei/ISTP收录:
Ei/ISTP双收录
截稿日期:
2015年6月18日

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Physics of point and extended defects in semiconductors: origin, electrical, optical and magnetic properties of defects
Diagnostics techniques of crystal growth and processing of semiconductor materials (in-situ and process control)
Device imaging and mapping to evaluate performance and reliability
Defect analysis in degraded optoelectronic and electronic devices
Imaging techniques and instruments (proximity probe, x-ray, electron beam, noncontact electrical, optical and thermal imaging techniques, etc.)
New frontiers of atomic-scale-defect assessment (STM, AFM, SNOM, ballistic electron energy microscopy, TEM, etc.)
New approaches for multi-physic-parameter characterization with nano-scale space resolution
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  • 2015-06-02 01:17:39, 580.06 K

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至尊木虫 (文坛精英)



yyuhmj17(金币+1): 谢谢参与
非常好谢谢分享!!
291楼2015-06-03 01:08:38
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nono200914楼
2015-06-02 05:16   回复  
yyuhmj17(金币+2): 谢谢参与
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