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【求助AFM, TEM, SEM, XPS等谱区别】+【有效期至2008年08月05日】
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求助AFM, TEM, SEM, STM, XRD, XPS, ROMAN等谱测试纳米材料性质方面区别.测试出的谱图各突出在什么方面? 如果给一个纳米碳管材料,我们怎么确定应该测哪几个谱呢?非常感谢! 对这几个谱一直很困惑(以前学有机, 只熟悉GC-MS,HPLC,NMR啥的), 请各位大侠不吝赐教,谢谢! [ Last edited by jasonwow on 2008-7-22 at 13:29 ] |
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jasonwow(金币+4,VIP+0):很全面,非常感谢!
jasonwow(金币+4,VIP+0):很全面,非常感谢!
| 扫描电镜和透射电镜形貌分析不仅可以分析纳米粉体材料还可以分析块体材料的形貌。其提供的信息主要是材料的几何形貌、粉体的分散状态、纳米颗粒大小及分布、特定形貌区域的元素组成和物相结构。扫描电镜对样品的要求比较低，无论是粉体样品还是大块样品，均可以进行形貌观察。扫描电镜的分辨率为6 nm，对于场发射电子显微镜其空间分辨率可以达到0.5 nm量级。透射电镜具有很高的空间分辨能力，特别适合纳米粉体材料的分析，其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌、颗粒大小、分布、还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，，但颗粒大小应小于300 nm，否则电子束不能通过。扫描隧道显微镜一般针对一些特殊导电固体样品的形貌分析，可以达到原子两级的分辨率，仅适合具有导电性能的薄膜材料的形貌分析和表面原子结构分布分析，对纳米粉体材料不能分析。原子力显微镜可以对纳米薄膜进行形貌分析，分辨率可以达到几十纳米，比扫描隧道显微镜差，但适合导体和非导体样品，不适合纳米粉体的形貌分析[7-10]。 |
5楼2008-07-22 08:55:36