| 查看: 526 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
| 【有奖交流】积极回复本帖子，参与交流，就有机会分得作者 zjdhgd 的 20 个金币 | |||
[交流]
急求如何通过XRD计算晶粒尺寸,通过oringe如何求半峰宽
|
|||
| 急问啊!快答辩了 |
回复此楼» 猜你喜欢
修改论文，如何借助其他力量？
已经有4人回复
-
中山大学潘越教授课题组2027级推免硕士研究生招生 新增一个专业医学技术名额
已经有21人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有153人回复
2楼2008-06-28 21:45:24
★
caosw2001(金币+1,VIP+0):谢谢讨论，欢迎常来纳米版！
caosw2001(金币+1,VIP+0):谢谢讨论，欢迎常来纳米版！
|
晶粒的细小可引起衍射线的宽化，衍射线半高强度处的线宽度B与晶粒尺寸d的关系为: d=0.89λ/(Bm-Bs)Cosθ 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗晶样品来测得Bs值． 当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度． 颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度． 这种测量方法只适用晶态的纳米粒子晶粒度的评估。实验表明晶粒度小于等于50nm时，测量值与实际值相近， 测量值往往小于实际值． |
3楼2008-06-28 21:49:32
