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sheshou123

新虫 (著名写手)

[求助] 求教有机硅的XPS分析

我有个有机硅薄膜加热,厚度50-500nm,考察这个有机物的变化,关注的重点是SI-O-C是否会变成SI-O-SI,SI-O-SI是否会变成二氧化硅,我关心的是能否测出来这种变化,比如键能的变化能测出来么?比如考察SI-O-C,SI-O-SI的SI 2p都是多少,通过这个半定量分析来确定结构的变化。这个XPS可以做到么?如果不能,那通过什么检测可以做到呢?
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