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zhaiyl2013

银虫 (正式写手)

[求助] 采用什么表征手段测含硼ZSM-5中的Si/B或Si和B的含量比较精确? 已有3人参与

如题,本人正在做含硼ZSM-5,想问一下各位高人采用什么表征手段测含硼ZSM-5中的Si/B或Si和B的含量比较精确?既需要测整体的Si/B,又需要测表面的Si/B。采用ICP和XPS的准确度高吗?
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287164452

禁虫 (正式写手)

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2楼2015-03-16 18:34:05
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炼狱之火

至尊木虫 (知名作家)

逆水行舟,不进则退

【答案】应助回帖

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测个元素分析或者ICP,XPS可以不测
安之若素,甘之如饴
3楼2015-03-16 19:08:23
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zhaiyl2013

银虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 287164452 at 2015-03-16 18:34:05
整体准确肯定是ICP,表面相对准确是XPS,你都想兼顾的话有点困难

不是想兼顾,就是分别测整体的和表面的,就是没测过,不知道用这两种手段可不可靠
4楼2015-03-16 22:45:17
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5楼2015-03-16 23:07:00
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guozl

专家顾问 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
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zhaiyl2013: 金币+8, ★★★很有帮助 2015-03-17 09:01:42
ICP需要溶样, 所以检测的是整体的 信息,而且准确度很高,再有XRF可以检测整体信息,只有标准曲线做的好,精确度也很高。表面信息我记电子探针分析EPMA可以。XPS没接触过,不太了解。
心在,梦在
6楼2015-03-17 07:23:44
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guozl

专家顾问 (著名写手)

引用回帖:
6楼: Originally posted by guozl at 2015-03-17 07:23:44
ICP需要溶样, 所以检测的是整体的 信息,而且准确度很高,再有XRF可以检测整体信息,只有标准曲线做的好,精确度也很高。表面信息我记电子探针分析EPMA可以。XPS没接触过,不太了解。

对了ICP比较麻烦,需要溶样,XRF很简单,研磨压片就好。
心在,梦在
7楼2015-03-17 07:24:37
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zhaiyl2013

银虫 (正式写手)

引用回帖:
6楼: Originally posted by guozl at 2015-03-17 07:23:44
ICP需要溶样, 所以检测的是整体的 信息,而且准确度很高,再有XRF可以检测整体信息,只有标准曲线做的好,精确度也很高。表面信息我记电子探针分析EPMA可以。XPS没接触过,不太了解。

谢谢您的答复
8楼2015-03-17 09:01:16
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zhaiyl2013

银虫 (正式写手)

引用回帖:
7楼: Originally posted by guozl at 2015-03-17 07:24:37
对了ICP比较麻烦,需要溶样,XRF很简单,研磨压片就好。...

XRF能测硼元素吗?压片的时候不是用硼酸混合压片吗?
9楼2015-03-17 16:37:45
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guozl

专家顾问 (著名写手)

【答案】应助回帖

引用回帖:
9楼: Originally posted by zhaiyl2013 at 2015-03-17 16:37:45
XRF能测硼元素吗?压片的时候不是用硼酸混合压片吗?...

不好意思,B好像不能用XRF检测。
心在,梦在
10楼2015-03-17 16:43:38
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