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freeman3

铁虫 (小有名气)

[交流] 【求助】SiO2 薄膜的性质

各位好,我最近做实验接触到一些SiO2膜的问题,搞不清楚。希望大家能够帮忙。。。

我发现两种基体,第一种是Si片上面热氧化生成SiO2 层, 第二种是Si片上面利用离子束溅射的方法镀一层SiO2 层,实验中我发现这两种SiO2 层对实验结果的影响方面存在截然不同的结果,一个很好,一个很坏,这应该归功于两种SiO2性质的不同。但是我不知道他们具体有什么差别(比如在密度,多孔性,疏松性质等方面),查文献没有找到非常权威的。不知道从事薄膜相关研究的朋友们能否提供一些帮助呢?非常感谢。

[ Last edited by FLY_Phoenix on 2008-6-19 at 23:59 ]
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wzz0808

至尊木虫 (著名写手)

千念

建议从热氧化方法与离子束溅射法的成膜机理着手分析,然后用SEM 或TEM 法检测SiO2膜观察应该就可以知道了。。。
长为有酒长为醉,少行路上少行人,空杯一尽江湖醉,一朝再起已黄昏。
2楼2008-06-19 18:54:00
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freeman3

铁虫 (小有名气)

感觉这些东西应该有比较成熟的理论或者比较完善的实验结果,现在就想得到这些实验结果,对我的体系进行一下佐证。
不知道谁能提供一些相应的文献资料。谢谢大家
3楼2008-06-19 20:52:22
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