12楼: Originally posted by 黄刚 at 2015-01-15 04:25:50
不好意思更正一下，我看错了，你第四个图是X‘’vsT图，arrhenius曲线是通过X‘’vsF(频率）来拟合的。但是你还是需要将那个异常点往上移。还有你的X'vsF,X''vsF曲线怎么没有.

13楼: Originally posted by 黄刚 at 2015-01-15 04:35:21
讨论一下你的第二和第四个问题
第二个问题你说的跳点比较多可能不是仪器问题，，可能是分子磁性信号不强的原因，也有可能是试样太少，一般这两种原因会造成异常点。
第四个问题70KOe时未达到饱和，主要原因是测试 ...

11楼: Originally posted by 黄刚 at 2015-01-15 04:20:48
样品的质量是不包括塑料薄膜的质量的，不过如果因为质量导致你的XTvsT曲线在300K下的值不对的话，你是可以修正质量的.
还有你最后一个图也需要移动一下数据点的，比如说你红色的那条曲线，峰值右边有一个点明显比两 ...

7楼: Originally posted by yeqingchen at 2015-01-14 23:31:33
嗯，其实要相信测试人员的操作，一般是没问题的，除非样品纯度影响，之前在IC上的一篇文章投稿，重新测试过变温磁化率。一般有铁磁性，然后测试交流磁化率，做稀土比较多。过度基本不做。...