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在做PEC测试时，发现在半导体材料外层复合了一层银后，在-0.8V左右有个小峰，为什么？已有1人参与
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| 本人在做PECE时，发现在半导体材料外层复合了一层银后，在-0.8V左右有个小峰，在多次重复测试下，此情况依旧出现，为什么？查看了以前别人发的文章，他们的没有出现这种情况，求大神帮忙分析下 |
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2014-12-31 15:26:40, 19.12 K
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