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【求助】高分子基底上的纳米高分子修饰薄膜厚度的测量
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求助各位高人一个表征上的问题： 我在高分子膜上修饰了一层其它高分子，形成了高分子复合膜。修饰层的厚度大约十几纳米。现在，我想测定这一层修饰层的厚度，但是用SEM观察不到这么薄的修饰层，而且，由于两层都是高分子，也找不到两者的界面。请教一下大家，高分子基底上的高分子修饰层的厚度可以测定吗？用什么仪器或方法可以测定呢？ 谢谢大家了  |
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试试XPS测修饰膜层厚度
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原理：修饰膜层与基底高分子材料在组成上不同。 方法：利用XPS做深度元素分析，可以得出修饰后材料从表层到一定深度元素的分布。XPS做深度元素分析是利用高速Ar粒子剥离膜层的，剥离速度可以调节（每秒多少个单位长度），根据深度分析结果找出基底高分子的特征元素的时间，即修饰膜完全剥离的时间，那么，修饰膜厚度＝剥离速度*时间！  希望对你有所帮助！ 可以Email联系！ 我的邮箱：leozhang_ce@yahoo.com.cn |
2楼2008-05-25 02:01:24
3楼2008-06-02 13:32:25
