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2014英文新著-纳米材料的扫描透射电子显微镜分析技术：基于图像的分析
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The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials. Readership: Graduate students and researchers in the field of nanomaterials and nanostructures.  |
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2014-11-05 08:52:38, 34.73 M
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80楼2014-11-09 00:19:05
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lh1219612楼
2014-11-05 08:56
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2014-11-05 09:22
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njrlfu4楼
2014-11-05 11:20
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2014-11-05 11:52
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2014-11-05 15:02
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lzl09187楼
2014-11-05 15:20
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wtiger8楼
2014-11-05 18:46
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Arogran9楼
2014-11-05 20:08
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seinberg10楼
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seinberg11楼
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zjys588712楼
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daiminzh13楼
2014-11-05 20:55
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muxinjin14楼
2014-11-05 21:41
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