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2014英文新著-纳米材料的扫描透射电子显微镜分析技术：基于图像的分析
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The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials. Readership: Graduate students and researchers in the field of nanomaterials and nanostructures.  |
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2014-11-05 08:52:38, 34.73 M
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113楼2014-11-11 08:02:01
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lh1219612楼
2014-11-05 08:56
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njrlfu4楼
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lzl09187楼
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daiminzh13楼
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muxinjin14楼
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