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铁面书生

木虫 (著名写手)

[求助] 关于TEM和AFM的问题求助已有3人参与

打算观察微细颗粒,颗粒的形大小在0.2~5微米左右,觉得SEM可能不是很合适,打算用TEM。可是颗粒是层状的,也就是说颗粒表面存在着层面和端面,差别较大,请问使用TEM或AFM怎样才能对层面和端面分别进行观察?
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不负韶华
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temexplorer

新虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
铁面书生: 金币+5 2014-09-29 08:39:38
铁面书生: 金币+2 2014-10-04 13:12:26
引用回帖:
7楼: Originally posted by 铁面书生 at 2014-09-27 11:55:04
是硅酸盐类的矿物质颗粒。请问如果表面发生了晶格缺陷,通过TEM能够表征出来吗?...

TEM能够表征晶体缺陷,但是我有点怀疑你所说的表面晶格缺陷,不过可以试试,还有矿物质如果很复杂的话,看起来是件很头疼的事情
9楼2014-09-27 16:25:38
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exciting73

金虫 (著名写手)


【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
铁面书生: 金币+5, 有帮助 2014-09-27 11:10:46
如果是要观察颗粒层面也就是高度信息,还是用AFM才行。
2楼2014-09-27 09:40:33
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temexplorer

新虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
铁面书生: 金币+7, 有帮助 2014-09-27 11:11:07
如果只是想看形貌,SEM搞定,其他什么都不需要,如果想看纳米级的细节和结构分析,看TEM,最好是SEM+TEM,搞定
3楼2014-09-27 10:57:23
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铁面书生

木虫 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by exciting73 at 2014-09-27 09:40:33
如果是要观察颗粒层面也就是高度信息,还是用AFM才行。

如果我要观察颗粒在溶液中的表面溶解及絮凝状况,请问可以通过AFM吗?
不负韶华
4楼2014-09-27 11:10:11
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