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chandlerbing铜虫 (小有名气)
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[交流]
请教：问个XRD问题
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薄膜（xyz）plane长在sapphire（012）plane上并且俩个plane夹角5度，用XRD测的时候，sapphire（012）plane可以测试出来，薄膜（xyz）能测试出来么？我的结果是有个微弱的薄膜的（xyz）的峰，这中结果合理不？（既然俩个面有5度左右的夹角） 谢谢！ [ Last edited by SHY31 on 2008-4-18 at 13:29 ] |
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chandlerbing
铜虫 (小有名气)
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4楼2008-04-20 08:23:21
，你的这个测出后，肯定是误差大些的 
2楼2008-04-18 09:31:38
buickay0
铁虫 (初入文坛)
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- 专业: Al2O3,PVD CVD,Max phase
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SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢热心回答，材料版欢迎你
SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢热心回答，材料版欢迎你
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或许你可以把问题的目的再讲得清楚一点。 1）如果你说薄膜（xyz）plane长在sapphire（012）plane上，那就不应该夹角5度？也许你从hrtem看到的5度角的面，实际上平行生长的应该是其他指数面（你有发现其他监测到的面吗？）。你想确认epitaxial 生长？之后还是单晶生长吗？ 如果之后多晶了xrd这个还是有点困难的。你的单晶氧化铝012取向肯定是很强的峰，那个微弱的薄膜的（xyz）的峰可能检测到，或许来自于相界面需要松弛? 或许是你生长面的2次衍射。你可以去氧化铝012峰后仔细再看看。 2） 你也可以用GIXRD看看改变incident angle 说不定会有更多发现 |
3楼2008-04-18 22:06:25
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