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xiaoss2000

[交流] 求助:HRTEM与TEM制样有何区别?

请教各位高手:HRTEM与TEM制样有何区别?我的样品是碳化硼陶瓷,很脆。

我以前做过几个TEM,现在想做HRTEM,不知它们制样有何区别?做过TEM实验的样品还可以继续做HRTEM吗?

一直联系不到做HRTEM的合适的地方,刚好一师兄要出国,托他带过去做,(那边是医学用的高分辨透镜,3000伏安的)。师兄搞的课题不是材料方面的,除了物质的基本参数和TEM图片外,不知我还要准备那些相关的资料等?

谢谢各位了!

[ Last edited by 江南豪情 on 2008-4-11 at 16:04 ]
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dawei821

银虫 (正式写手)

HRTEM与TEM制样


SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢回答,请常来材料版
我以前用同一个钛基复合材料样品做过HRTEM与TEM观察,感觉制样没有什么区别
2楼2008-04-11 17:41:39
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niufeng

金虫 (小有名气)


SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢回答,想成木虫请参加材料版的有奖活动哦
应该没大区别,我看到过粉末的高分辨透射电镜样品制备,和普通的没什么区别
3楼2008-04-11 21:23:49
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hsbchsbc

木虫 (正式写手)

这很难说。高分辨需要样品更薄,大约50nm以下。有的材料很难做薄。
4楼2008-04-12 04:57:17
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njrlfu

至尊木虫 (知名作家)

关于HRTEM

HRTEM获得的是晶格势场的投影像,为了满足弱相位体近似(WPOA)条件,样品要求尽量薄,摄取HRTEM时通常在离焦状态下进行。图像的解释需要进行计算机图像模拟,可以获得有关离子占位等方面的信息,如果仅仅观察晶格像,测试晶面间距意义不大。对于新晶体结构或复杂化合物的结构解释非常有帮助。
5楼2008-04-12 15:46:04
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xiaoss2000

谢谢各位了!!!
6楼2008-04-14 09:03:57
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