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原子力显微镜(AFM)疑惑
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papaverme
铁杆木虫 (正式写手)
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
h2009313: 金币+10, 非常感谢您的详细解答。。 2014-07-26 15:35:04
小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
h2009313: 金币+10, 非常感谢您的详细解答。。 2014-07-26 15:35:04
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图中的上半部分是AFM获得的图像,偏右的地方有一条竖线,下图就是沿着这条竖线的高度曲线。曲线的横坐标为扫描点的位置,纵坐标为对应点的高度。因此,通过曲线上的峰的高度就可以近似测出图中颗粒相对于基板的高度。 从曲线中可以看出,基线的高度基本在6A的位置,各个“峰”的高度大约在11~13A,所以,高度差约在5~7A,即0.5~0.7nm。基本原理是这样,但更精确的统计需要对曲线数据做数学处理,而不只是用肉眼看;并且需要更多的数据,图中这么短一条线是统计不到那么多颗粒的。图中应该只是一个示例,实际作者应该是做了更多的类似的曲线,或者直接用软件做统计的。 |
34楼2014-07-25 11:58:10
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h2009313(金币+1): 谢谢参与
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祝福 [ 发自小木虫客户端 ] |
3楼2014-07-25 10:09:48
4楼2014-07-25 10:21:24
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h2009313(金币+1): 谢谢参与
h2009313(金币+1): 谢谢参与
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12楼2014-07-25 10:36:20













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h2009313
