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水中望月

[交流] 四探针法电导率的测试问题?

用四探针法测试粉末样品电导率须把样品其压成圆片,请问对粉末样品的用量,压力及圆片的直径与厚度各有什么要求?再者粉末样品的电导率是否为材料本身的性质,与圆片的厚度,密度等因素无关?谢谢大家!
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渔翁860

金虫 (正式写手)


SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢回答
这要看你的材料是金属还是半导体了,金属的话差别不大,半导体的话压片会对载流子浓度和迁移率长生很大影响。
2楼2008-04-02 08:37:41
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SHY31

至尊木虫 (知名作家)

小木虫研究生院西南地区区长

优秀版主

四探针在企业用的很多的

所以楼上的比较熟悉不妨写点心得吧~~会给你加分的

我也用过

测试的是石墨电极,但是测试出的数据跟厂家提供的不太一直呢

所以还想跟大家多交流
小木虫研究生院
3楼2008-04-02 13:25:43
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yanhualu2000

至尊木虫 (著名写手)

支持楼上的建议。我也准备四探针法测薄膜电阻。
青春不再,青春痘还在。
4楼2008-04-02 17:45:44
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zhousm

木虫 (正式写手)

本质上,采用四电极是问了消除材料的热电势及减小电极的贡献,其中外端两个通电流,内侧两个测量电压。测量时,电流正反两次,记录两次的电压值,两值相减即可消除消去热电势,从而较为准确的得到材料的电阻。
一般样品成长条形较好,内侧两端的距离较大为好!

[ Last edited by zhousm on 2008-4-3 at 02:22 ]
5楼2008-04-03 02:20:14
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handsomeland

金虫 (正式写手)

这里有详尽的四探针实验注意事项,请您学习:
http://en.wikipedia.org/wiki/Van_der_Pauw_method
http://www.instrument.com.cn/ilog/handsomeland/
6楼2008-04-03 03:28:40
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nobady

金虫 (正式写手)

四探针是半导体测试中常用的测电阻率的设备,可以用来测半导体材料的电阻(也即其中的载流子浓度)。对于层状结构的石墨材料,层内的电阻率小,层间的电阻率很大!附一个ppt供大家参考吧!
7楼2008-04-03 08:43:24
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水中望月

非常感谢大家的帮助!
8楼2008-04-04 14:49:19
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