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【求助】 如何解决场发射SEM高倍观测聚合物时材料表面裂口问题？
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我们学校的SEM是HITACHI S-4700冷场发射扫描电镜。本来这种设备可以观测到超过10万倍的影像的，现在的问题是当其用于高分子时，在放大倍数超过5000倍时，聚合物材料表面就会因为电子束密度的提高而被烧出裂纹，根本无法拍摄。但低于5000又无法观测到尺寸小于100nm的材料。 请问这个问题应该如何解决呢？非常感谢！ [ Last edited by zcphenix on 2008-3-27 at 20:53 ] |
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