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Einstein9818

金虫 (著名写手)

[求助] 用什么实验方法可以测量金属中空位数量的变化规律?已有1人参与

除了正电子湮灭实验外,用什么测试方法可以测量金属样品在变形后空位数量的变化规律?
请各位赐教。
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yyyu200

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

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感谢参与,应助指数 +1
Einstein9818: 金币+50, ★★★★★最佳答案, 多谢赐教 2014-05-21 10:31:14
深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料中深能级杂质和晶体缺陷的最有用的方法。
    可用于检测太阳能电池材料中的各种杂质和缺陷,包括金属杂质以及点缺陷和位错的等各种缺陷类型,从而分析影响少子寿命的关键性杂质元素和缺陷。
    可以得到陷阱密度及其深度分布,陷阱上载流子的激活能以及陷阱中心对自由载流子的俘获截面等信息。
2楼2014-05-20 22:11:48
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陈勇跃

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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感谢参与,应助指数 +1
Einstein9818: 金币+50, 在样品中空位总数不变的条件下,如果是小的空位团聚集为更大的空位团,可以表征出来吗 2014-05-21 16:42:35
可用低温霍尔测试,在低温下测量载流子的类型和浓度,从而判断空位空位数量的变化。
3楼2014-05-21 12:46:40
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陈勇跃

金虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 陈勇跃 at 2014-05-21 12:46:40
可用低温霍尔测试,在低温下测量载流子的类型和浓度,从而判断空位空位数量的变化。

空位总数不变,载流子就没变化了,这样空位团大小不能直接表征出来。

» 本帖已获得的红花(最新10朵)

4楼2014-05-21 23:38:25
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Einstein9818

金虫 (著名写手)

送红花一朵
引用回帖:
4楼: Originally posted by 陈勇跃 at 2014-05-21 23:38:25
空位总数不变,载流子就没变化了,这样空位团大小不能直接表征出来。...

我是金属样品,导电性首先很好,如果样品中的空位总数在增加,但由于空位聚团,导致空位团数目是减少的,能用低温霍尔测试测量出来吗?
5楼2014-05-22 08:22:51
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chenzq1969

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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Einstein9818: 金币+50, 有帮助, 因为现在的过程是样品中的空位数量在增加,但由于同时空位聚成空位团了,导致总的正电子陷阱密度在下降,如果做正电子湮没实验的话能够测出总空位数量的增加吗 2014-08-03 08:23:01
为什么不做正电子湮没测量呢?又不是很困难。
6楼2014-08-02 22:02:40
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