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怎么消除AFM制备划痕时产生的堆积材料 已有1人参与
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实验室一哥们在做自愈合材料，现在在AFM contact mode模式下scratch. 问题是每次划痕过后，在沟槽的中间产生材料堆积物。 我看文献都是在两侧或者末端产生。 始终不明白为什么我们的的样品在中间产生。材料很软， Tg很低，分子量也就1万左右。 欢迎大家来讨论呀。 我不大明白TIP在scan size里面的起始点在哪里。正中间么？ |
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