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solarlee1981

[交流] N掺杂材料中N原子的位置如何判断?

N掺杂是提高光催化材料可见光条件下光催化活性的重要方法。但问题是N原子到底是存在于材料的表面,还是存在于晶格内部?这个如何判断呢?

对TiO2进行N掺杂的研究也比较多了,但是我所查到的文章中TiO2的主带边都没有发生改变,只是在可见光区有一个吸收拖尾。而根据能带理论,如果N原子进入晶格,在O2p轨道之上插入了N2p局域能级,带隙应当是缩小的,也就是说主带边应当是红移的。这个吸收上的拖尾能不能说明是N原子没有进入体相,而只是在表面存在,造成了O缺陷而形成的吸收?

我们这一个日本学者说,这个是跟N原子的掺杂浓度有关,尽管实际上形成了一个副带边,但是由于N原子浓度太少,仍然以主带边吸收为主,所以形成了这样一个拖尾。如果是O缺陷的话,应当在500-800nm范围有吸收才对。

对他的说法,就比较难以反驳了。除非从实验上作出高浓度N掺杂的材料来进行对比,可大家都知道,N掺杂的浓度是很难提高的。那么有没有什么简单直观的测试手段来分析呢?

我的候选方案之一是测试XPS和Raman。XPS肯定能测出N的存在,但那是表面上的N原子,而Raman可以测体相中键的震动,如果能测到N-O键的存在,那么可以说明N进入了体相,反之则没有。但是我没有查到N-O键震动位置的报道,以及相关Raman光谱研究。而我作的Raman光谱对比发现,尽管震动峰位置、数量没有明显变化,但是N掺杂后的震动峰明显宽化了,这个如何解释呢?

希望能和大家讨论讨论
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雁过无痕

至尊木虫 (职业作家)

资深木虫


nxl5096224(金币+1,VIP+0):3Q!
XPS+ESR+NMR这样是否可以?
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2楼2008-03-12 16:19:34
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yuncld

木虫 (正式写手)


nxl5096224(金币+1,VIP+0):多谢关注!
XPS做氩蚀的话不是可以达到10nm吗,这算不算深入体相呢,我记得有文献这样对比过(氩蚀前后)结论说是掺杂原子进入体相(好象也是日本人做的S掺杂TiO2)。
Raman我就不懂了
选择简单,只关注生命中最重要的事。
3楼2008-03-12 16:23:18
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cdmc

木虫 (正式写手)


nxl5096224(金币+1,VIP+0):多谢关注啊
Raman也是用来检测固体表面状况的表征手段吧,似互很难啊.
raman谱峰的宽化似乎有多种原因,与颗粒的大小也有关系.一般颗粒变小后也有宽化现象存在.
4楼2008-03-12 21:16:47
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jwelln

木虫 (正式写手)


nxl5096224(金币+1,VIP+0):谢谢啦!
引用回帖:
Originally posted by solarlee1981 at 2008-3-12 11:26:
N掺杂是提高光催化材料可见光条件下光催化活性的重要方法。但问题是N原子到底是存在于材料的表面,还是存在于晶格内部?这个如何判断呢?

对TiO2进行N掺杂的研究也比较多了,但是我所查到的文章中TiO2的主带边 ...

我觉得xps在一定程度上是可以说明问题的
如果氮掺杂进入晶格和钛成键
在结合能上能反应出来的
这个报道很多
5楼2008-03-16 16:18:18
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