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TEM 图像重影漂移 已有4人参与
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大家好， 最近做低倍TEM （JEM 2100） 发现微纳米颗粒老是有白色的重影，而且这个重影随着对焦的变化而发生变化，基本上很难消除。感觉以前用的时候还没有这个现象。如果用高倍TEM，一直没有这个问题，很正常，晶格条纹都能出来。 请问，为什么最近在低倍时候会有这种白色重影，怎么消除？ 另外，我做的材料是NaGdF4, 难道是Gd 有磁性会这样？但是实验室的其他人说也遇到这个问题，他们做的不是磁性材料。 谢谢！  010203-1.jpg |
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4楼2014-03-24 16:11:46
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2楼2014-03-24 10:40:00
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3楼2014-03-24 15:47:07
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【答案】应助回帖
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john2006: 金币+1, ★有帮助 2014-03-24 22:41:23
john2006: 金币+1, ★有帮助 2014-03-24 22:41:23
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不能编辑原帖真是不方便，只能再次回帖修正。 第一段话里没有回答楼主的问题：白色重影其实是聚焦和球差引起的，英文称为dislocalization，有人翻译为离域效应，也就是说没有样品的地方也出现一定的样品图像。场发射电镜这种情况更明显，而且到高倍下也不会消除，只有球差校正电镜才能完全消除。 具体可以参考这个帖子： http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110625/3382253 |
5楼2014-03-24 16:24:25