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yumeng1143

银虫 (小有名气)

[求助] 请问如何证明一个材料低温下是高电阻?

大家知道,低温的高电阻会经常超过PPMS测试的量程,所以测不出来。好的绝缘体随着温度降低,会升高很快,我们可以从趋势上猜测是好的绝缘体,但超过测试量程后(比如 低于Tt)由于超量程还是不能得到准确数据。请问如果我有电阻率数据R vs T(Tt<T<RT)以及介电常数和损耗 vs T 数据 (5 K<T<RT,包括低于Tt数据),请问有什么办法来证明在低于Tt下的确实是好的绝缘体(>10^8 欧姆米)?看到文献上有两种办法:
1. 基于R vs T数据来计算激活能来判断低于Tt下是不是好的绝缘体?但我不知如何计算激活能?激活能是多少可以判断是好的绝缘体呢?
2. 文献上说可以通过介电常数和损耗 vs T 数据来估算电阻率。比如在小于Tt的一个温度110K下介电常数为35,损耗为0.01, 测试频率为5kHz,那么电阻率在110K下大约为 10^3 欧姆米。请问是怎么估算的?我非常想知道的是,如果测试频率变为100 kHz, 但介电常数和损耗都维持不变的情况下,电阻率应该估算是多少呢?
     先谢谢各位,好的答案我会发更多的金币作为答谢。
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