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银虫 (小有名气)

引用回帖:

8楼: Originally posted by myfuther at 2014-02-08 17:57:17
是在Si基底上测的，为了不受Si的影响，才选用thin film model测试法的...

这个鼓包对应的间距大概在0.4-1.0 纳米，可能的情况 1 碳的峰，但是石墨的鼓包一般在25-30对应的间距0.4-0.2 纳米，所以排除这种情况，2 类似于碳材料的较为有序的层状结构，间距大概在0.4-1.0 纳米，拍个透射看看就清楚了！

11楼2014-02-10 12:00:41

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禁虫 (知名作家)

XRD&SEM qq2978260443

【答案】应助回帖

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★ ★
myfuther: 金币+2, ★★★很有帮助, 谢谢你的帮助，有一点不太了解。在用MDI Jade 扣除背景的时候低角度区域抠背景之后变化太大，余下部分锯齿状很厉害，这样没有关系么？ 2014-02-16 16:22:32

主要的原因是你的材料中含有某种晶型发育很差劲儿的东西。
你的样品就是在普通模式下扫描也会有低角度很高的现象，处理很简单，扣除背景就好了。不用纠结

12楼2014-02-13 22:57:10

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禁虫 (正式写手)

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13楼2014-02-16 16:26:20

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铜虫 (初入文坛)

你好：
由您提供的XRD图谱可知，你的测试存在以下问题：
（1）空气散射较为严重，建议增加刀口装置，已减弱空气散射
（2）衍射峰存在宽化现象，建议控制颗粒度5-15微米之间
（3) 建议减小测试步长，增加每部停留时间
（4）背底较强是由于Ti的荧光效应，建议增加检测器的能量窗口电压。

14楼2014-02-17 12:01:56

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