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wyq0316

银虫 (小有名气)

引用回帖:
8楼: Originally posted by myfuther at 2014-02-08 17:57:17
是在Si基底 上测的,为了不受Si的影响,才选用thin film model测试法的...

这个鼓包对应的间距大概在0.4-1.0 纳米,可能的情况 1 碳的峰,但是石墨的鼓包一般在25-30对应的间距0.4-0.2 纳米,所以排除这种情况,2 类似于碳材料的较为有序的层状结构,间距大概在0.4-1.0 纳米,拍个透射看看就清楚了!
11楼2014-02-10 12:00:41
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休眠火山

禁虫 (知名作家)

XRD&SEM qq2978260443


【答案】应助回帖

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★ ★
myfuther: 金币+2, ★★★很有帮助, 谢谢你的帮助,有一点不太了解。在用MDI Jade 扣除背景的时候 低角度区域抠背景之后变化太大,余下部分锯齿状很厉害,这样没有关系么? 2014-02-16 16:22:32
主要的原因是你的材料中含有某种晶型发育很差劲儿的东西。
你的样品就是在普通模式下扫描也会有低角度很高的现象,处理很简单,扣除背景就好了。不用纠结
12楼2014-02-13 22:57:10
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myfuther

禁虫 (正式写手)

本帖内容被屏蔽

13楼2014-02-16 16:26:20
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pangaixiaoye

铜虫 (初入文坛)

你好:
   由您提供的XRD图谱可知,你的测试存在以下问题:
(1)空气散射较为严重,建议增加刀口装置,已减弱空气散射
(2)衍射峰存在宽化现象,建议控制颗粒度5-15微米之间
(3) 建议减小测试步长,增加每部停留时间
(4)背底较强是由于Ti的荧光效应,建议增加检测器的能量窗口电压。
14楼2014-02-17 12:01:56
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