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最新扫描微波阻抗显微镜已有3人参与
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牛津仪器Asylum Research公司2014年1月15日发布新型原子力显微镜技术-扫描微波阻抗显微镜[Scanning Microwave Impedance Microscopy(sMIM)]。该技术能够以空前的灵敏度和分辨率对导体、半导体以及绝缘体等任何样品的电容和电导进行纳米成像。Asylum 公司一贯倡导的理念就是“超越形貌”-原子力显微镜除了能进行高分辨率的成像之外，还能对更有价值的纳米机械性能和纳米电学性能进行测试。而sMIM就是在这一理念的最新产物，其将PrimeNano 公司的专利探针技术和电子技术与Asylum Research的原子力显微镜完美的结合在一起。Asylum Research公司的MFP-3D™ 和 Cypher™是唯一拥有sMIM技术的两款原子力显微镜 原子力显微镜的纳米电学模式应用在微电子学的研究中已有很长一段时间，因为它能够提供设设备结构，功能和失效等方面的重要信息。但是绝大多数传统AFM电学模式存在着固有的缺陷：无法同时测试电阻和电容；样品制备复杂。而sMIM完全克服这些固有的缺陷：高灵敏度的同时测量电容(介电常数)和电导（电阻）；同时样品的制备极为简单。正是因为这些卓越的特性，sMIM能够广泛的应用于各种材料，如铁电体、压电体以及低维纳米材料（如石墨烯、氮化硼以及二硫化钼）等。详情参阅：http://www.asylumresearch.com/Products/sMIM/sMIM.shtml |
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2楼2014-01-18 09:56:42
飞行系
新虫 (正式写手)
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3楼2018-03-22 17:43:32
4楼2018-05-12 12:24:34