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cike

木虫 (著名写手)

[求助] 我对某种合金加了0.1%的元素,我如何检测出这种元素处在晶界还是晶内呢?已有7人参与

我对某种合金加了0.1%的元素,起到了明显的细化晶粒效果,我如何检测出这种元素处在晶界还是晶内呢?另外,我如何判定它是形成了化合物还是以单质形式存在呢?这种元素是11号之前的元素,是不是做荧光和透射都不能检测出来呢?
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jackiejia

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
做俄歇吧,俄歇能检低序数元素
宝剑锋从磨砺出,梅花香自苦寒来
2楼2014-01-10 13:17:38
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wangli7436

新虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
XRD晶相分析中有元素定量分析功能,不知道能否实现你的要求
3楼2014-01-10 13:52:45
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296843255

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
做扫描电镜吧,然后用波谱仪分析,可以探测原子序数很小的元素。
每种色彩,都应该盛开!
4楼2014-01-10 18:35:18
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sun_zhen_

铁杆木虫 (文坛精英)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
试试TEM中的Mapping,或许可以,不过量是少了点
5楼2014-01-10 19:25:13
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zpsun1982

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
肯定需要用俄歇AES.
晶界还是晶内,这需要考虑偏析。通过分析晶界和晶内的元素差异可得出结论。
6楼2014-01-10 20:49:21
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
cike: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2014-01-11 09:49:31
既然微量元素起到了明显的细化晶粒效果,要么是元素以第二相弥散分布,起到了异质形核的作用,增加了形核率,从而细化了晶粒,此时SEM尤其是TEM视场下应能看到大量细小颗粒分布在晶粒内部;否则可看到晶界处有很多细小颗粒,且用SEM的EDS对晶界进行成分的定性分析,因为虽然总量小,但由于吸附与偏析的原因,晶界处的元素浓度会比平均浓度高很多倍。
由于总量太少,用XRD判定是化合物还是单质是不行了。想定量估计也难,只能大致定性判断了。用EDS对第二相区域进行扫描,获得原子比数值,然后人工判断了。
7楼2014-01-10 23:41:51
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hec1982

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
电子探针,俄歇电子检测。
8楼2014-01-12 10:03:33
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hec1982

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

楼上7楼说的针对的是析出强化,固溶强化的检测不出析出相分数。
9楼2014-01-12 10:04:52
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