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如何用高斯分布来描述表面粗糙度
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在一些模型中，用高斯分布来描述粗糙度，主要涉及两个参数：Δ，表面在垂直方向的平均位移，可用RMS来近似；Λ，Δ的相关长度。 对于Λ，我的理解是这样的：假如表面由不同高度的方块组成，在表面上取两个点，如果这两个点在同一个方块上，那么他们的高度是相关的，否则不相关。Λ可近似为AFM结果中两个峰的距离。 问题： 1，我看了一些资料，都很零碎，对上面的模型没有清晰的图像。如果哪位大贤刚好知道这个问题，请帮我解释一下这个模型。, 2，“Λ可近似为AFM结果中两个峰的距离”是不是正确呢？ 3，AFM结果中两个峰的距离在结果中直接给出了吗？我上一个测量结果，可以用nanoscope analysis分析 谢谢大贤指点，感激不尽。 |
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2013-12-23 23:11:07, 436.66 K
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